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行业标准
SJ 21442-2018 GaN-SI型半绝缘氮化镓单晶片规范
标准号
SJ 21442-2018
现行
行业标准
SJ 20844A-2018 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
标准号
SJ 20844A-2018
现行
行业标准
SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
标准号
SJ/T 11489-2015
现行
行业标准
SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
标准号
SJ/T 11497-2015
现行
行业标准
SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
标准号
SJ/T 11490-2015
现行
行业标准
SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
标准号
SJ/T 11498-2015
现行
行业标准
SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法
标准号
SJ/T 11499-2015
现行
行业标准
SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
标准号
SJ/T 11495-2015
现行
行业标准
SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
标准号
SJ/T 11494-2015
现行
行业标准
SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范
标准号
SJ/T 11502-2015
现行
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