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半导体材料类标准规范免费下载

行业标准

SJ/T 11494-2015 硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法

标准号SJ/T 11494-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南

标准号SJ/T 11495-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法

标准号SJ/T 11493-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法

标准号SJ/T 11490-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11489-2015 低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法

标准号SJ/T 11489-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分

标准号SJ/T 11492-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

标准号SJ/T 11491-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法

标准号SJ/T 11499-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

标准号SJ/T 11488-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

YS/T 543-2006(2012) 半导体键合铝-1%硅细丝

标准号YS/T 543-2006(2012)

已作废

发布日期:2006-01-01实施日期:2006-01-01

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