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半导体材料类标准规范免费下载

行业标准

SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

标准号SJ/T 11552-2015

现行

发布日期:2015-10-10实施日期:2016-04-01
行业标准

SJ/T 11505-2015 蓝宝石单晶抛光片规范

标准号SJ/T 11505-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

标准号SJ/T 11504-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ 20444A-2018 铌酸锂单晶规范

标准号SJ 20444A-2018

现行

发布日期:2018-01-01实施日期:2018-01-01
行业标准

SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

标准号SJ/T 11491-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

标准号SJ/T 11488-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分

标准号SJ/T 11492-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11503-2015 碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

标准号SJ/T 11503-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法

标准号SJ/T 11487-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01
行业标准

SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量

标准号SJ/T 11496-2015

现行

发布日期:2015-04-30实施日期:2015-10-01

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