SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
内容简介
行业标准《半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。
起草单位
信息产业专用材料质量监督检验中心、苏州晶瑞化学有限公司等、工业和信息化部电子工业标准化研究院、
起草人
何秀坤、董彦辉、刘兵、
相近标准
20021939-T-610非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法GB/T4326-2006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法GB/T4326-1984非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法GB/T11297.7-1989锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法20061631-T-604精密电阻合金电阻率测试方法GB/T6146-1985精密电阻合金电阻率测试方法GB/T6146-2010精密电阻合金电阻率测试方法半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法20202829-T-469半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法YS/T602-2017区熔锗锭电阻率测试方法两探针法
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