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SJ 20844A-2018 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法

SJ 20844A-2018 半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法

SJ 20844A-2018

行业标准-电子强制性
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标准详情

  • 标准名称：半绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
  • 标准号：SJ 20844A-2018
    中国标准分类号：
  • 发布日期：2018-01-01
    国际标准分类号：441.457.
  • 实施日期：2018-01-01
    技术归口：
  • 代替标准：
    批准发布部门：
  • 标准分类：电气工程半导体材料

内容简介

起草单位

起草人

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