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半导体分立器件综合标准下载
半导体分立器件综合
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国家标准
GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾
标准号
GB/T 4937.13-2018
现行
国家标准
GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
标准号
GB/T 4937.12-2018
现行
国家标准
GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法
标准号
GB/T 4937.11-2018
现行
国家标准
GB/T 249-2017 半导体分立器件型号命名方法
标准号
GB/T 249-2017
现行
国家标准
GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
标准号
GB/T 29332-2012
现行
国家标准
GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
标准号
GB/T 4937.4-2012
现行
国家标准
GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
标准号
GB/T 4937.3-2012
现行
国家标准
GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
标准号
GB/T 4937.2-2006
现行
国家标准
GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
标准号
GB/T 4937.1-2006
现行
国家标准
GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
标准号
GB/T 4589.1-2006
现行
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