GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、无锡必创传感科技有限公司、北京大学微电子研究院、
起草人
张艳杰、彭浩、崔波、高金环、迟雷、张威、李树杰、岳振鹏、裴选、张天福、陈得民、周刚、
相近标准
GB/T4937-1995半导体器件机械和气候试验方法20132215-T-339半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾半导体器件机械和气候试验方法第38部分：半导体器件的软错误试验方法半导体器件机械和气候试验方法第8部分：密封GB/T4937.21-2018半导体器件机械和气候试验方法第21部分：可焊性GB/T4937.1-2006半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则20193134-T-339半导体器件机械和气候试验方法第8部分：密封20030194-T-339半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则20141823-T-339半导体器件机械和气候试验方法第21部分：可焊性半导体器件机械和气候试验方法第10部分：机械冲击
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