GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
内容简介
国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、
起草人
张天福、高金环、于学东、崔波、张艳杰、彭浩、李树杰、裴选、迟雷、
相近标准
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