DS/EN 62417-2010 标准详情
- 标准号：DS/EN 62417-2010
- 中文标题：半导体装置 - 移动离子的测试为金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET ）
- 英文标题：Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
- 标准类别：丹麦DANSK
- 发布日期：2010-07-19
DS/EN 62417-2010 半导体装置 - 移动离子的测试为金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET ）
内容简介
IEC 62417-2010 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管的可移动离子试验 provides a wafer level test procedure to determine the amount of positive mobile charge in oxide layers in metal-oxide semiconductor field effect transistors. It is applicable to both active and parasitic f
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