DS/EN 62416-2010 标准详情
- 标准号：DS/EN 62416-2010
- 中文标题：半导体器件 - 在MOS晶体管热载流子测试
- 英文标题：Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
- 标准类别：丹麦DANSK
- 发布日期：2010-08-16
DS/EN 62416-2010 半导体器件 - 在MOS晶体管热载流子测试
内容简介
IEC 62416-2010 半导体器件 MOS晶体管的热载子试验 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
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