IEC 60749-26 Ed. 2.0 标准详情
- 标准号：IEC 60749-26 Ed. 2.0
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC 60749-26 Ed. 2.0
内容简介
Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD). The objective is to provide r
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