JIS R1683-2014 标准详情
- 标准号:JIS R1683-2014
- 中文标题:用于陶瓷薄膜的原子力显微镜的表面粗糙度的测试方法
- 英文标题:Test method for surface roughness of ceramic thin films by atomic force microscopy
- 标准类别:日本工业JIS
- 发布日期:2014-10-20
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