CENELEC EN 60749-8-2003 标准详情
- 标准号:CENELEC EN 60749-8-2003
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法第8部分:密封IEC 60749-8 : 2002 +更正: 2003
- 英文标题:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 8: Sealing IEC 60749-8: 2002 + corrigendum: 2003
- 标准类别:欧盟标准EN
- 发布日期:2003-06-01