ASTM F867M-1994A 标准详情
- 标准号：ASTM F867M-1994A
- 中文标题：半导体器件电离辐射效应(总剂量)试验的标准导则(米制)
- 英文标题：Guide for Ionizing Radiation Effects (Total Dose) Testing of Semiconductor Devices [Metric]
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1994
ASTM F867M-1994A 半导体器件电离辐射效应(总剂量)试验的标准导则(米制)
内容简介
CONTAINED IN VOL 10.04 1999Covers the requirements and procedures for testing semiconductor discrete devices and integrated for effects from ionizing radiation with electrons or gamma rays. Gives an accelerated aging testing for estimating low dose r
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