DIN 50448 (1998-01) 标准详情
- 标准号：DIN 50448 (1998-01)
- 中文标题：
- 英文标题：Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical resistivity of semi-insulation semiconductor slices using a capacitive probe
- 标准类别：德国标准DIN
- 发布日期：
