EIA JESD 22-B108-2003 标准详情
- 标准号:EIA JESD 22-B108-2003
- 中文标题:共面性测试对于表面安装半导体器件
- 英文标题:Coplanarity Test For Surface-mount Semiconductor Devices
- 标准类别:美国电子工业协会EIA
- 发布日期:
Measures the deviation of the leads from the coplanarity for surface-mount semiconductor devices.
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