NF EN 62276-2006 单晶晶片的表面声波（ SAW ）设备应用 - 规范和测量方法块块monocristallines倒应用utilisant德dispositifs德松德acoustiques德面， spifications等mhodes德MESURE
NF EN 62276-2006 标准详情
- 标准号：NF EN 62276-2006
- 中文标题：单晶晶片的表面声波（ SAW ）设备应用 - 规范和测量方法块块monocristallines倒应用utilisant德dispositifs德松德acoustiques德面， spifications等mhodes德MESURE
- 英文标题：single crystal wafers for surface acoustic wave (saw) device applications - specifications and measuring methods tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs ondes acoustiques de surface. spifications et mhodes de mesure
- 标准类别：法国国家标准
- 发布日期：2006-02-01
内容简介
Pertains to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic
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