UNE EN 60749-7-2003 标准详情
- 标准号:UNE EN 60749-7-2003
- 中文标题:
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Internal Moisture Content Measurement And The Analysis Of Other Residual Gases
- 标准类别:西班牙国家标准UNE
- 发布日期:
Applicable to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device.
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