UNE EN 60749-16-2003 标准详情
- 标准号:UNE EN 60749-16-2003
- 中文标题:
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 16: Particle Impact Noise Detection (pind)
- 标准类别:西班牙国家标准UNE
- 发布日期:
Detects the presence of loose particles inside a cavity device such as, for example, chips of ceramic, pieces of bonding wire or solder balls (prills).
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