UNE EN 60749-25-2004 标准详情
- 标准号:UNE EN 60749-25-2004
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第25部分:温度循环
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 25: Temperature Cycling
- 标准类别:西班牙国家标准UNE
- 发布日期:
Provides a test procedure for determining the ability of semiconductor devices and components and/or board assemblies to withstand mechanical stresses induced by alternating high and low temperature extremes.
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