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DIN EN 60749-25-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第25部分：温度的急剧变化（空气，空气）（ IEC一千六百十六分之四十七/ CDV ： 2002），德国版PREN 60749-25 ：2002

DIN EN 60749-25-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第25部分：温度的急剧变化（空气，空气）（ IEC一千六百十六分之四十七/ CDV ： 2002），德国版PREN 60749-25 ：2002

DIN EN 60749-25-2002 标准详情

标准号：DIN EN 60749-25-2002
中文标题：（草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第25部分：温度的急剧变化（空气，空气）（ IEC一千六百十六分之四十七/ CDV ： 2002），德国版PREN 60749-25 ：2002
英文标题：(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 25: rapid change of temperature (air, air) (iec 47/1616/cdv:2002); german version pren 60749-25:2002
标准类别：德国标准
发布日期：2002-09-01

内容简介

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