NF EN 60749-34-2011 Semiconducteur器件 - 机械和气候试验方法 - 第34部分:电单车Dispositifs semiconducteurs , Mhodes科特迪瓦的Essais maniques等climatiques , Partie 34 :周期恩PUISSANCE
NF EN 60749-34-2011 标准详情
- 标准号:NF EN 60749-34-2011
- 中文标题:Semiconducteur器件 - 机械和气候试验方法 - 第34部分:电单车Dispositifs semiconducteurs , Mhodes科特迪瓦的Essais maniques等climatiques , Partie 34 :周期恩PUISSANCE
- 英文标题:Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling Dispositifs semiconducteurs. Mhodes d'essais maniques et climatiques. Partie 34 : cycles en puissance
- 标准类别:法国国家NF
- 发布日期:2011-05-01
内容简介
Determines the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors.
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