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BS EN 60749-30-2005+A1-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理

BS EN 60749-30-2005+A1-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理

BS EN 60749-30-2005+A1-2011 标准详情

  • 标准号:BS EN 60749-30-2005+A1-2011
  • 中文标题:半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理
  • 英文标题:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
  • 标准类别:英国标准BS
  • 发布日期:2006-01-27

内容简介

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