标准详情
- 标准名称:直接还原铁化学分析方法 第7部分:多元素的测定 X射线荧光光谱法
- 标准号:DB53/T 639.7-2014
- 中国标准分类号:H11
- 发布日期:2014-09-28
- 国际标准分类号:71.040.99
- 实施日期:2014-12-30
- 技术归口:云南省检验检测标准化技术委员会
- 代替标准:
- 批准发布部门:云南省质量技术监督局
- 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准制造业云南省
地方标准《直接还原铁化学分析方法 第7部分:多元素的测定 X射线荧光光谱法》由云南省检验检测标准化技术委员会归口上报,主管部门为云南省质量技术监督局。本部分规定了直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、磷、氧化铝、锰、二氧化钛、氧化钾、铜含量的测定方法。 本部分适用于直接还原铁中二氧化硅、氧化钙、氧化镁、磷、氧化铝、锰、二氧化钛、氧化钾、铜含量的测定。各组分测定范围(质量分数)见表1。 表1 各组分测定范围 组分 测定范围(质量分数)/% SiO2 0.25~10.00 CaO 0.10~10.00 MgO 0.10~10.00 P 0.010~2.00 Al2O3 0.10~14.00 Mn 0.10~5.00 TiO2 0.010~10.00 K2O
武钢集团昆明钢铁股份有限公司、云南省黑色冶金产品质量监督检验站、
张卫强、李文生、苟敏、郑玲、张坤、李宏萍、陈涛、陶俊、许涯平、高丽萍、高玲、曾海梅、王磊、
YS/T703-2014石灰石化学分析方法元素含量的测定X射线荧光光谱法YS/T806-2020铝及铝合金化学分析方法元素含量的测定X射线荧光光谱法20082091-T-610工业硅化学分析方法第5部分:元素含量的测定X射线荧光光谱法GB/T14849.5-2010工业硅化学分析方法第5部分:元素含量的测定X射线荧光光谱法GB/T14506.28-1993硅酸盐岩石化学分析方法X射线荧光光谱法测定主、次元素量20121952-T-610工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法GB/T14849.5-2014工业硅化学分析方法第5部分:杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法YS/T575.23-2009铝土矿石化学分析方法第23部分:X射线荧光光谱法测定元素含量YS/T575.23-2021铝土矿石化学分析方法第23部分:元素含量的测定X射线荧光光谱法20192091-T-469表面化学分析全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定硅片表面元素污染
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!