标准详情
- 标准名称:半导体探测器X射线能谱仪通则
- 标准号:GB/T 20726-2006
- 中国标准分类号:N53
- 发布日期:2006-12-25
- 国际标准分类号:71.040.99
- 实施日期:2007-08-01
- 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
- 代替标准:被GB/T 20726-2015代替
- 批准发布部门:国家标准化管理委员会
- 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
中国科学院地质与地球物理研究所、
曾荣树、徐文东、马玉光、范逛、
20030762-T-469半导体探测器X射线能谱仪通则GB/T11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法20101268-T-307带电粒子半导体探测器测量方法GB/T5201-1994带电粒子半导体探测器测试方法GB/T5201-2012带电粒子半导体探测器测量方法GB/T19629-2005医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计20075691-T-469X射线光电子能谱仪检定方法GB/T25184-2010X射线光电子能谱仪检定方法20061774-T-307硅(锂)X射线探测器系统GB/T13179-1991硅(锂)X射线探测器系统
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