DB35/T 1370-2013 发光二极管芯片点测方法
内容简介
地方标准《发光二极管芯片点测方法》由省信息化局归口上报，主管部门为福建省质量技术监督局。本标准规定了发光二极管芯片（以下简称芯片）的点测条件和点测方法。 本标准适用于可见光发光二极管芯片光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测。紫外光、红 外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。 本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。
起草单位
厦门市三安光电科技有限公司、福建省光电行业协会、厦门市产品质量监督检验院、国家半导体发光器件（LED）应用产品质量监督检验中心、
起草人
蔡伟智、梁奋、时军朋、葛莉荭、陈涛、兰国政、李国煌、吕艳、黄松金、刘毅清、
相近标准
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