UNE EN 60749-18-2003 标准详情
- 标准号：UNE EN 60749-18-2003
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 18: Ionizing Radiation (total Dose)
- 标准类别：西班牙国家标准UNE
- 发布日期：
UNE EN 60749-18-2003
内容简介
Covers a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 ([60]Co) gamma ray source.
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