ASTM E1250-1988(2000) 对于电离室中的应用，以评估钴60辐照器用于硅电子器件的辐射硬度测试的低能γ成分的标准测试方法
ASTM E1250-1988(2000) 标准详情
- 标准号：ASTM E1250-1988(2000)
- 中文标题：对于电离室中的应用，以评估钴60辐照器用于硅电子器件的辐射硬度测试的低能γ成分的标准测试方法
- 英文标题：Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1988
内容简介
1.1 Low energy components in the photon energy spectrum of Co-60 irradiators lead to absorbed dose enhancement effects in the radiation-hardness testing of silicon electronic devices. These low energy components may lead to errors in determining the
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