KS D 0257-2002 标准详情
- 标准号:KS D 0257-2002
- 中文标题:光电导衰减测量法测定硅单晶体的少数载流子寿命的方法
- 英文标题:Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
- 标准类别:韩国KS
- 发布日期:
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