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GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2006

国家标准推荐性

标准详情

  • 标准名称:薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
  • 标准号:GB/T 20724-2006
    中国标准分类号:N53
  • 发布日期:2006-12-25
    国际标准分类号:71.040.99
  • 实施日期:2007-08-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 20724-2021代替
    批准发布部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

起草单位

北京科技大学、

起草人

柳得橹、

相近标准

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