标准详情
- 标准名称:薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- 标准号:GB/T 20724-2006
- 中国标准分类号:N53
- 发布日期:2006-12-25
- 国际标准分类号:71.040.99
- 实施日期:2007-08-01
- 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
- 代替标准:被GB/T 20724-2021代替
- 批准发布部门:国家标准化管理委员会
- 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
北京科技大学、
柳得橹、
20067042-T-469薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法20194209-T-469微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法GB/T20724-2021微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法GB/T18907-2002透射电子显微镜选区电子衍射分析方法晶体材料X射线衍射仪旋转定向测定方法20111324-T-469微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法GB/T18907-2013微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法GB/T13761-1992土工布厚度测定方法JY/T0587-2020多晶体X射线衍射方法通则
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