LST EN 60749-33-2004 标准详情
- 标准号:LST EN 60749-33-2004
- 中文标题:半导体器件,机械和气候试验方法 - 第33部分:加速抗湿,无偏反应釜( IEC 60749-33 : 2004)
- 英文标题:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004)
- 标准类别:立陶宛标准LST
- 发布日期:2004-08-30