DS/EN 62415-2010 标准详情
- 标准号:DS/EN 62415-2010
- 中文标题:半导体器件 - 恒流电测试
- 英文标题:Semiconductor devices - Constant current electromigration test
- 标准类别:丹麦DANSK
- 发布日期:2010-08-16
IEC 62415-2010 半导体器件 恒流电迁移试验 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
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