NF X21-005-2006 标准详情
- 标准号:NF X21-005-2006
- 中文标题:微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- 英文标题:microbeam analysis - scanning electron microscopy - guidelines for calibrating image magnification.
- 标准类别:法国国家标准
- 发布日期:2006-04-01
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习,研究使用。如有侵权,请及时联系我们!