LST EN 60749-30-2005 标准详情
- 标准号:LST EN 60749-30-2005
- 中文标题:半导体器件,机械和气候试验方法第30部分:非密封表面预处理前可靠性测试贴装器件( IEC 60749-30 : 2005)
- 英文标题:Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005)
- 标准类别:立陶宛标准LST
- 发布日期:2005-05-16