AEC Q100-005 Revision D1 标准详情
- 标准号:AEC Q100-005 Revision D1
- 中文标题:
- 英文标题:Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, And Operating Life Test
- 标准类别:其他国内外OTHERSS
- 发布日期:
Specifies the ability of the memory array of a standalone Nonvolatile Memory integrated circuit or an integrated circuit with a Nonvolatile Memory module (such as a microprocessor Flash Memory) to- sustain repeated data changes without failure (Progr
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