DIN EN 62047-18-2014 半导体器件 - 微机电装置 - 第18部分:薄膜材料弯曲试验方法( IEC 62047-18 : 2013 ) ,德文版本EN 62047-18 : 2013
DIN EN 62047-18-2014 标准详情
- 标准号:DIN EN 62047-18-2014
- 中文标题:半导体器件 - 微机电装置 - 第18部分:薄膜材料弯曲试验方法( IEC 62047-18 : 2013 ) ,德文版本EN 62047-18 : 2013
- 英文标题:Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013); German version EN 62047-18:2013
- 标准类别:德国标准DIN
- 发布日期:2014-04
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