CECC CECC 90 109- 789 ISSUE 1-1987 数字集成电路硅单片? MOS ,腔或无腔封装,类型(S ) 54/74 HCT 165并联负载8位移位寄存器,评估水平P, Y, L(英语,法语,戈)
CECC CECC 90 109- 789 ISSUE 1-1987 标准详情
- 标准号:CECC CECC 90 109- 789 ISSUE 1-1987
- 中文标题:数字集成电路硅单片? MOS ,腔或无腔封装,类型(S ) 54/74 HCT 165并联负载8位移位寄存器,评估水平P, Y, L(英语,法语,戈)
- 英文标题:Digital Integrated Circuits Silicon Monolithic C MOS, Cavity or Non-Cavity Packages; Type(s) 54/74 HCT 165 Parallel Load 8-Bit Shift Register; Assessment Levels P, y, L (En, Fr, Ge)
- 标准类别:欧洲电子元器件委员会CECC
- 发布日期:1987-01-01
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