SS EN 60749-4 Ed. 1 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第4部分:湿热,稳态,高加速应力测试( HAST )
SS EN 60749-4 Ed. 1 标准详情
- 标准号:SS EN 60749-4 Ed. 1
- 中文标题:半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第4部分:湿热,稳态,高加速应力测试( HAST )
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (hast)
- 标准类别:新加坡SS
- 发布日期:
内容简介
Gives a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
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