KS C IEC 60749-3-2002 标准详情
- 标准号：KS C IEC 60749-3-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
- 英文标题：Discrete semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 3：External visual examination
- 标准类别：韩国KS
- 发布日期：
KS C IEC 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
内容简介
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