PN EN 60749-5-2005 标准详情
- 标准号：PN EN 60749-5-2005
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第5部分：稳态温度湿度偏差寿命试验
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 5: Steady-state Temperature Humidity Bias Life Test
- 标准类别：波兰标准PN
- 发布日期：
PN EN 60749-5-2005 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第5部分：稳态温度湿度偏差寿命试验
内容简介
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：