QJ 10005-2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南

内容简介

本指导性技术文件给出了宇航用半导体器件(以下简称器件)重离子辐照引起的单粒子效应的试验指南,包括试验要求、试验方法和试验程序。本指导性技术文件适用的单粒子效应包括单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子扰动等。不包括功率MOS器件的单粒子烧毁。本指导性技术文件中的半导体器件包括半导体集成电路和半导体分立器件。