当前位置:主页行业标准

SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767-2020

行业标准-电子推荐性

标准详情

  • 标准名称:二极管低频噪声参数测试方法
  • 标准号:SJ/T 11767-2020
    中国标准分类号:L41
  • 发布日期:2020-12-09
    国际标准分类号:31.080.01
  • 实施日期:2021-04-01
    技术归口:基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
  • 代替标准:
    批准发布部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学半导体分立器件电子半导体分立器件综合

内容简介

行业标准《二极管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了二极管1HZ~300KHZ频率范围内的噪声参数测试方法及要求。

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、重庆赛宝工业技术研究院等、西安电子科技大学、

起草人

余永涛、胡为、恩云飞、

相近标准

SJ/T11765-2020晶体管低频噪声参数测试方法SJ/T11768-2020电阻器低频噪声参数测试方法SJ/T11766-2020光电耦合器件低频噪声参数测试方法SJ/T11769-2020电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求20063330-T-339气象雷达参数测试方法GB/T12649-2017气象雷达参数测试方法GB/T12649-1990气象雷达参数测试方法JB/T7624-1994整流二极管测试方法JB/T7624-2013整流二极管测试方法20120143-T-339处理器电参数测试方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请及时联系我们!

相关推荐