I.S. EN 60749-6-2002 标准详情
- 标准号：I.S. EN 60749-6-2002
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 6: Storage At High Temperature
- 标准类别：爱尔兰国家标准I.S.
- 发布日期：
I.S. EN 60749-6-2002
内容简介
Determines and test the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied.
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