BS IEC 60747-5-3-1998 标准详情
- 标准号:BS IEC 60747-5-3-1998
- 中文标题:分立半导体器件和集成电路.光电器件.测量方法
- 英文标题:Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Optoelectronic devices. Measuring methods
- 标准类别:英国标准BS
- 发布日期:1998-01-15
To be read in conjunction with IEC 60747-1, IEC 62007-1, IEC 62007-2
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