GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

内容简介

本标准规定了军用微电子器件的环境、机械、电气试验方法和试验程序,以及为保证微电子器件满足预定用途所要求的质量和可靠性而必须的控制和限制措施。 本标准适用于军用及空间应用的微电子器件。 如果承制方标明或声称其半导体集成电路符合本标准的规定,则必须满足方法5004、5005或5010(对复杂微电路)的要求,混合集成电路应满足GJB 2438的要求,同时应满足本标准的一般要求和所引用的其他试验方法的要求,而且产品规范应经标准化机构确认。