ASTM D7352-2007(2012) 标准详情
- 标准号：ASTM D7352-2007(2012)
- 中文标题：用薄膜界面探头 (MIP) 记录挥发性污染物用直推技术的标准实施规程
- 英文标题：Standard Practice for Direct Push Technology for Volatile Contaminant Logging with the Membrane Interface Probe (MIP)
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：2007
ASTM D7352-2007(2012) 用薄膜界面探头 (MIP) 记录挥发性污染物用直推技术的标准实施规程
内容简介
5. Significance and UseTop Bottom 5.1 The MIP system provides a timely and cost effective way (4) for delineation of volatile organic contaminants (for example, benzene, toluene, solvents, trichloroethylene, tetrachloroethylene) with depth (5, 6
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