UNE EN 60749-11-2003 标准详情
- 标准号:UNE EN 60749-11-2003
- 中文标题:
- 英文标题:Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Rapid Change Of Temperature - Two-fluid-bath Method
- 标准类别:西班牙国家标准UNE
- 发布日期:
Describes the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. It is applicable to all semiconductor devices.
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