DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
内容简介
地方标准《半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法》，主管部门为贵州省质量技术监督局。本标准规定了具有单一热流路径的半导体器件结-壳热阻RTH(J-C)的瞬态测试方法。本标准适用于具有单一热流路径的半导体器件。
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相近标准
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