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ASTM F76-1986(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

ASTM F76-1986(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

ASTM F76-1986(2002) 标准详情

  • 标准号:ASTM F76-1986(2002)
  • 中文标题:测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
  • 英文标题:Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors
  • 标准类别:美国材料与试验协会ASTM
  • 发布日期:1986

内容简介

In order to choose the proper material for producing semiconductor devices, knowledge of material properties such as resistivity, Hall coefficient, and Hall mobility is useful. Under certain conditions, as outlined in the Appendix, other useful qua

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