IEEE 300-1988 标准详情
- 标准号:IEEE 300-1988
- 中文标题:半导体带电粒子探测器试验规程
- 英文标题:standard test procedures for semiconductor charged-particle detectors(ansi/ieee) r(1999)
- 标准类别:国际电工协会标准IEEE
- 发布日期:1988-06-09
This standard applies to semiconductor radiation detectors that are used for the detection of high-resolution spectroscopy of charged particles.
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